當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 半導(dǎo)體分析測(cè)試設(shè)備 > 分析測(cè)試設(shè)備 > 多模態(tài)光電顯微鏡
簡(jiǎn)要描述:燭龍™系列中的多模態(tài)光電顯微鏡是一臺(tái)具有超高穩(wěn)定性的多功能光電綜合測(cè)試和微加工系統(tǒng),可根據(jù)客戶需求提供多種靈活可選的配置和方案。系統(tǒng)集成了電動(dòng)運(yùn)動(dòng)臺(tái)和振鏡的掃描方式,可實(shí)現(xiàn)瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)下的光電流測(cè)試和掃描成像,熒光壽命測(cè)試和掃描成像,拉曼光譜測(cè)試,二次諧波測(cè)試,熒光光譜采集,發(fā)射和吸收等光譜端的測(cè)試和掃描成像。除此之外,整套系統(tǒng)可搭配飛秒脈沖激光器和我司自主研發(fā)的低溫系統(tǒng)進(jìn)行相關(guān)的變溫測(cè)試以及器件表
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燭龍™系列中的多模態(tài)光電顯微鏡是一臺(tái)具有超高穩(wěn)定性的多功能光電綜合測(cè)試和微加工系統(tǒng),可根據(jù)客戶需求提供多種靈活可選的配置和方案。系統(tǒng)集成了電動(dòng)運(yùn)動(dòng)臺(tái)和振鏡的掃描方式,可實(shí)現(xiàn)瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)下的光電流測(cè)試和掃描成像,熒光壽命測(cè)試和掃描成像,拉曼光譜測(cè)試,二次諧波測(cè)試,熒光光譜采集,發(fā)射和吸收等光譜端的測(cè)試和掃描成像。除此之外,整套系統(tǒng)可搭配飛秒脈沖激光器和我司自主研發(fā)的低溫系統(tǒng)進(jìn)行相關(guān)的變溫測(cè)試以及器件表面的微加工和缺陷標(biāo)記。多模態(tài)光電顯微鏡將為眾多新質(zhì)生產(chǎn)力領(lǐng)域提供強(qiáng)大的支持,助力國(guó)內(nèi)相關(guān)領(lǐng)域的發(fā)展和科技創(chuàng)新。
- 極紫外-太赫茲波段的超寬譜線覆蓋范圍(266nm-0.8THz)
- 多種可選的穩(wěn)態(tài)光源和瞬態(tài)光源
- 提供激光功率和頻率的軟件控制
- 電動(dòng)顯微聚焦
- 多種可選的光采集模式
- 瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)光源和光路的電動(dòng)切換
- 線偏振光和圓偏振光的電動(dòng)偏振測(cè)試
- 支持直流,交流以及高頻探針
(漏電流<100fA)
- 支持常溫和變溫下的引線鍵合測(cè)試(10K-450K)
- 支持常溫和變溫下的探針測(cè)試
(77K-450K)
- 兼容2450,4200,6221等多種源表
- 兼容OE1201,SR810等多種鎖相放大器
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