當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 半導(dǎo)體分析測(cè)試設(shè)備 > 分析測(cè)試設(shè)備 > customizedX射線(xiàn)衍射儀XRD
簡(jiǎn)要描述:X射線(xiàn)衍射儀XRD 產(chǎn)品概述:智能X射線(xiàn)衍射儀SmartLab系列,可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域??梢苑治龅牟牧习ǎ航饘俨牧稀o(wú)機(jī)材料、復(fù)合材料、有機(jī)材料、納米材料、超導(dǎo)材料??梢苑治龅牟牧蠣顟B(tài)包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品。
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智能X射線(xiàn)衍射儀SmartLab系列,可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域。可以分析的材料包括:金屬材料、無(wú)機(jī)材料、復(fù)合材料、有機(jī)材料、納米材料、超導(dǎo)材料??梢苑治龅牟牧蠣顟B(tài)包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品。
1. 粉末樣品的物相定性與定量分析
2. 計(jì)算結(jié)晶化度、晶粒大小
3. 確定晶系、晶粒大小與畸變
4. Rietveld定量分析
5. 薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,電荷密度
6. In-Plane裝置可以同時(shí)測(cè)量樣品垂直方向的結(jié)構(gòu)及樣品深度方向的結(jié)構(gòu)
7. 小角散射與納米材料粒徑分布
8.微區(qū)樣品的分析。
X射線(xiàn)衍射儀的工作原理基于布拉格定律。當(dāng)X射線(xiàn)照射到晶體樣品時(shí),晶體內(nèi)部的原子平面會(huì)引起X射線(xiàn)的衍射。通過(guò)測(cè)量不同衍射角度下的強(qiáng)度,儀器能夠繪制出衍射圖譜。根據(jù)衍射圖譜中的峰值位置和強(qiáng)度,研究人員可以確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)、相組成以及其他晶體特性。這一過(guò)程通常需要高度精確的旋轉(zhuǎn)和檢測(cè)系統(tǒng),以確保數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性。
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