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簡要描述:FTPadv Expert薄膜測量軟件具有FTPadv標準軟件中包含的用戶友好和以配方為導(dǎo)向的操作概念。突出顯示擬合參數(shù)、測量和計算的反射光譜以及主要結(jié)果的光學(xué)模型同時顯示在操作屏幕上。
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1. 產(chǎn)品概述
FTPadv Expert薄膜測量軟件具有FTPadv標準軟件中包含的用戶友好和以配方為導(dǎo)向的操作概念。突出顯示擬合參數(shù)、測量和計算的反射光譜以及主要結(jié)果的光學(xué)模型同時顯示在操作屏幕上。
2. 主要功能與優(yōu)勢
n、k 和厚度的測量
該軟件包設(shè)計用于 R(λ) 和 T(λ) 測量的高分析。
多層分析
可以測量單層薄膜和層疊的每一層的薄膜厚度和折射率。
大量的色散模型
集成色散模型用于描述所有常見材料的光學(xué)特性。通過使用快速擬合算法改變模型參數(shù),將計算出的光譜調(diào)整為測量的光譜。
3. 靈活性和模塊化
SENTECH FTPadv Expert 軟件包用于光譜數(shù)據(jù)的高分析,根據(jù)反射和透射測量結(jié)果確定薄膜厚度、折射率和消光系數(shù)。它擴展了SENTECH FTPadv薄膜厚度探頭的標準軟件包,適用于更復(fù)雜的應(yīng)用,包括光學(xué)特性未知或不穩(wěn)定的材料。可以在光滑或粗糙、透明或吸收性基材上測量單個透明或半透明薄膜的薄膜厚度、折射率和消光系數(shù)。該軟件允許分析復(fù)雜的層堆棧,并且可以確定堆棧的每一層的參數(shù)。
我們的FTPadv Expert薄膜測量軟件具有FTPadv標準軟件中包含的用戶友好和以配方為導(dǎo)向的操作概念。突出顯示擬合參數(shù)、測量和計算的反射光譜以及主要結(jié)果的光學(xué)模型同時顯示在操作屏幕上。
該軟件包包括一個大型且可擴展的材料庫,該庫基于表格材料文件以及參數(shù)化色散模型。
FTPadv Expert 軟件可選用于膜厚探頭 FTPadv,以及反射儀 RM 1000 和 RM 2000 軟件包的一部分。
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