一、產(chǎn)品概述：

探針臺(tái)是一種用于微小電子元件和材料的測(cè)試設(shè)備，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、材料科學(xué)和微電子領(lǐng)域。它提供一個(gè)穩(wěn)定的平臺(tái)，用于精確定位和連接探針，以實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的電氣測(cè)試和分析。

二、設(shè)備用途/原理：

·設(shè)備用途

探針臺(tái)主要用于測(cè)試集成電路、薄膜材料和微結(jié)構(gòu)等的電氣性能。常見應(yīng)用包括半導(dǎo)體器件的參數(shù)測(cè)試、材料的電阻率測(cè)量和故障分析等。通過高精度的定位和可調(diào)節(jié)的探針，研究人員能夠獲取樣品的詳細(xì)電氣特性。

·工作原理

探針臺(tái)的工作原理是通過機(jī)械系統(tǒng)將探針精確地定位到樣品的特定接觸點(diǎn)。設(shè)備通常配備高分辨率的光學(xué)系統(tǒng)，用于觀察樣品并調(diào)整探針的位置。當(dāng)探針接觸樣品時(shí)，可以通過外部測(cè)試設(shè)備（如源測(cè)量單元）施加電流或電壓，并測(cè)量相應(yīng)的電壓或電流反應(yīng)。通過這種方式，研究人員可以獲取樣品的電氣參數(shù)，分析其性能和特性。

三、主要技術(shù)指標(biāo)：

1. 探針臺(tái)主要應(yīng)用于晶圓、芯片、器件、封裝等半導(dǎo)體制程測(cè)試環(huán)節(jié)

2. 樣品尺寸：碎片~12英寸

3. 自動(dòng)化：手動(dòng)、半自動(dòng)、全自動(dòng)

4. 測(cè)試環(huán)境：高低溫、磁場(chǎng)、真空

5. 探針臺(tái)類型：分析探針臺(tái)、直流、射頻、高壓、毫米波、太赫茲、硅光測(cè)量、芯片測(cè)量、定制化等。