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冷熱沖擊試驗(yàn)箱 技術(shù)參數(shù): 1. 溫度范圍:周?chē)h(huán)境溫度+50 +200℃ -70~0℃ 3溫區(qū) 2. 高溫曝露到+200℃:15分鐘以?xún)?nèi) 3. 常溫曝露:5分鐘 4. 低溫曝露:-65℃15分鐘
高低溫(濕熱) 試驗(yàn)箱 產(chǎn)品概述: 1. 新型冷凍機(jī)的使用,實(shí)現(xiàn)了大范圍、高精度的溫濕度控制 2. 40 模式可編程控制器、具有多種語(yǔ)言選擇、試驗(yàn)數(shù)據(jù)U 盤(pán)存儲(chǔ) 3.故障追溯功能、試驗(yàn)箱發(fā)生故障之前的運(yùn)行狀態(tài)會(huì)被自動(dòng)記錄并保存
立式高溫試驗(yàn)箱簡(jiǎn)述:滿(mǎn)足各種產(chǎn)品、零部件及材料在高溫恒溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)間適應(yīng)性試驗(yàn)要求。采用定值和程序兩種控制。定值控制可進(jìn)行自動(dòng)開(kāi)始結(jié)束設(shè)定,適合于生產(chǎn)線(xiàn)熱處理干燥處理。程序控制可進(jìn)行10個(gè)模式,每個(gè)模式20步的程序設(shè)定。滿(mǎn)足有溫度上升、下降斜率設(shè)定的溫度特性試驗(yàn)。
工業(yè)顯微鏡簡(jiǎn)介: 1. 支持通過(guò)光學(xué)顯微鏡或圖像測(cè)量?jī)x(如Nikon NEXIV),對(duì)直徑為6英寸(150mm)和8英寸(200mm)的半導(dǎo)體晶圓的創(chuàng)新設(shè)計(jì)和材料進(jìn)行檢測(cè)。 2. 半導(dǎo)體晶圓裝載機(jī)系列,能夠?qū)⒅睆綖?英寸(150mm)和8英寸(200mm)的晶圓轉(zhuǎn)移到厚度為100微米(工廠制造選項(xiàng))的尼康Eclipse L200N和LV150N顯微鏡或NEXIV VMZ-S視頻測(cè)量?jī)x器上。
超景深顯微鏡概述:本套系統(tǒng)主要用于材料表面形貌的觀察;平面或三維測(cè)量??刹捎?D觀測(cè)模式,對(duì)被測(cè)物形狀,粗糙度,表面積等進(jìn)行測(cè)量,可以做高度,寬度,橫截面,角度,R值,表面積,體積,線(xiàn)粗糙度,面粗糙度等的測(cè)量分析。同時(shí)可以做材料斷口、金相的觀測(cè),陶瓷,微流道,微加工,現(xiàn)代加工制造,MEMS研究,微納制造等。
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