1.產(chǎn)品概述：

以 B1506A 功率器件分析儀為例，它是完整的功率電路設(shè)計(jì)解決方案 125。可在不同工作條件下評(píng)測(cè)功率器件的眾多參數(shù)，如高達(dá) 3kV/1500A 的運(yùn)行范圍，能進(jìn)行 IV 參數(shù)（擊穿電壓和導(dǎo)通電阻）測(cè)量，具備在高壓偏置下的三端電容（如 Ciss、Coss、Crss 等）、柵極電荷（Qg）和功率損耗的測(cè)量功能，還支持 -50°C 至 +250°C 的全自動(dòng)快速熱測(cè)試等。

2.設(shè)備應(yīng)用：

研發(fā)領(lǐng)域：幫助工程師在功率半導(dǎo)體器件的設(shè)計(jì)階段，精確測(cè)量和分析器件的各種特性參數(shù)，如導(dǎo)通電阻、擊穿電壓、電容特性、柵極電荷等，為優(yōu)化設(shè)計(jì)提供數(shù)據(jù)支持，加速研發(fā)進(jìn)程。

生產(chǎn)環(huán)節(jié)：用于對(duì)功率器件進(jìn)行大規(guī)模的質(zhì)量檢測(cè)和篩選，確保產(chǎn)品的性能和質(zhì)量符合標(biāo)準(zhǔn)，提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品良率 5。

失效分析：當(dāng)功率器件在使用過(guò)程中出現(xiàn)故障時(shí)，可通過(guò)該分析儀對(duì)器件進(jìn)行詳細(xì)的測(cè)試和分析，找出失效的原因和部位，為改進(jìn)和修復(fù)提供依據(jù) 5。例如在新能源汽車的 “三電系統(tǒng)" 中，對(duì)功率半導(dǎo)體的測(cè)試就非常關(guān)鍵。

 3.設(shè)備特點(diǎn)

在各種工作條件下都能執(zhí)行準(zhǔn)確的測(cè)量

一體化解決方案可以表征高達(dá) 1500 A 和 10 kV 的功率器件可在高壓偏置下進(jìn)行中檔電流測(cè)量（例如 1200 V 時(shí)為 500 mA）μΩ 導(dǎo)通電阻測(cè)量能力在高壓偏置下進(jìn)行準(zhǔn)確的皮安以下電流測(cè)量-50 ℃ 至 +250 ℃ 全自動(dòng)熱測(cè)試

廣泛的器件評(píng)測(cè)功能

在高達(dá) 3000 V 直流偏置下進(jìn)行全自動(dòng)電容（Ciss、Coss、Crss 等）測(cè)量

短 10 μs 的大功率脈沖測(cè)量

封裝器件和晶圓上 IGBT/FET 柵電荷測(cè)量

用于表征 GaN 電流崩塌效應(yīng)的高壓/大電流快速開(kāi)關(guān)選件

多達(dá)五個(gè)高壓（3 kV）源表通道，大地提高靈活性

通過(guò)配有互鎖裝置的測(cè)試夾具進(jìn)行安全的溫度相關(guān)測(cè)試

測(cè)量效率更高

無(wú)需重新連接線纜即可在高壓測(cè)量和大電流測(cè)量之間切換

自動(dòng)形成測(cè)試電路，用于測(cè)試封裝器件和晶圓上器件的晶體管結(jié)電容（Ciss、Coss、Crss、Cgs、Cgd、Cds 等）

標(biāo)配配有互鎖裝置的測(cè)試夾具，用于安全地測(cè)試封裝功率器件

有支持和安全保障的晶圓上大功率測(cè)試，電流超過(guò) 200 A，電壓高達(dá) 10 kV

示波器視圖使您可以驗(yàn)證所輸入的電壓和電流波形

在 MS Windows 環(huán)境中運(yùn)行的 EasyEXPERT 軟件有助于改善數(shù)據(jù)管理和分析

可升和可擴(kuò)展的硬件體系結(jié)構(gòu)

多種測(cè)量模塊可供選擇

支持多達(dá) 6 個(gè)引腳的大功率器件