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簡要描述:Kurt J. Lesker Company Mini SPECTROS™是基于主力SPECTROS平臺的下一代薄膜沉積系統(tǒng)。SPECTROS平臺在全球擁有100多臺設備,是一種成熟、堅固和多功能的設計。Mini SPECTROS建立在原始設計的成功基礎上,改進了系統(tǒng)基礎壓力和抽空時間。技術的腔室設計、具有高級編程功能的行業(yè)最佳軟件控制系統(tǒng)、實時配方線程操作以及用于優(yōu)化薄膜性能的眾多功能,這些
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Kurt J. Lesker Company Mini SPECTROS™是基于主力SPECTROS平臺的下一代薄膜沉積系統(tǒng)。SPECTROS平臺在全球擁有100多臺設備,是一種成熟、堅固和多功能的設計。Mini SPECTROS建立在原始設計的成功基礎上,改進了系統(tǒng)基礎壓力和抽空時間。技術的腔室設計、具有高級編程功能的行業(yè)最佳軟件控制系統(tǒng)、實時配方線程操作以及用于優(yōu)化薄膜性能的眾多功能,這些都是這種創(chuàng)新的設計提供的一些關鍵優(yōu)勢。®
Mini SPECTROS™與以下技術兼容:
1cc 或 10cc LTE 信號源(除熱源外,最多 4 個信號源)
4 英寸熱源(除 LTE 源外,最多 4 個源)
TORUS 磁控濺射源(最多 6 個 2“ 或 3" 離子源)®
電子束蒸發(fā)源(4口袋8cc,8口袋12cc,6口袋20cc)
上述技術的組合也可用。
可根據(jù)要求提供定制配置
TORUS離子源在典型的濺射壓力(< 20 mTorr)下運行,并利用硅晶圓進行沉積。氧化硅®2目標運行射頻功率,膜厚 >=500?。鋁目標使用直流電源運行,膜厚 >=1500?。Ni Target 使用高強度 TORUS 和直流電源運行,膜厚 >=1500?。®
KJLC 電子束沉積運行利用 Si 晶圓進行沉積。Ti蒸發(fā)材料,膜厚>=1500?。
所有薄膜均在正確校準的輪廓儀、反射儀或橢圓儀(如果適用)上進行測量。
測量點從基板的中心開始,然后每 0.5 英寸(12.7 毫米)徑向外徑向外,標稱值(右側參考圖)。
均勻性計算公式為:((最大 - 最?。?(2 x 平均值)) x 100%,帶 0.2 英寸 (5mm) 邊緣排除。
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