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簡要描述:KOSAKA LAB ET 200A微型輪廓儀(光學(xué)檢測)是株式會社小坂研究所的高精度微細(xì)形狀測定機,基于Windows系統(tǒng),采用金剛石探針接觸測量,適用于多種材料表面形貌分析,如臺階、粗糙度等,配備多樣探針,操作直觀便捷,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光電等領(lǐng)域。
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1. 樣品臺規(guī)格:
樣品臺尺寸:Φ160mm
大工件尺寸:Φ200mm
大工件厚度:52mm
大工件重量:2kg
縱向調(diào)整范圍:2.5" (±5mm/160mm)
樣品臺材質(zhì):黑色硬質(zhì)鉛
手動旋轉(zhuǎn):360°(手動粗調(diào))、±5°(微調(diào),小約0.5°)
2. 傳感器參數(shù):
原理:光柵式傳感器
Z方向測定范圍:Max. 600μm
Z方向小分辨率(隨放大倍率變化):
x5,000倍時:10nm ±300μm
x10,000倍時:5nm ±160μm
x20,000倍時:2.5nm ±80μm
x50,000倍時:1nm ±32μm
x100,000倍時:0.5nm ±16μm
x200,000倍時:0.25nm ±8μm
x500,000倍時:0.1nm ±3.2μm
x1,000,000倍時:0.05nm ±1.6μm
x2,000,000倍時:0.025nm ±0.8μm
測定力:10μN~500μN
觸針半徑:2μm 60° 鉆石針頭(另有多種可選)
驅(qū)動方式:直流伺服
重復(fù)性:te = 0.2nm (1μm以下臺階時)
3. X軸(基準(zhǔn)軸/測量軸)參數(shù):
移動量(大行程):100mm (±50mm)
直線度:0.2μm/100mm (全量程),5nm/5mm (局部)
移動速度:0.005~20mm/s
線性度(linear scale):X方向分辨率 0.1μm
位置重復(fù)誤差:±5nm
以下是詳細(xì)列出的機械臂參數(shù)和功能:
4. Z軸參數(shù):
移動量:54mm
移動速度:大2.0mm/S
檢出器自動停止機能
5. Y軸參數(shù)(手動定位用):
移動量:25mm(±12.5mm)
6. 工作觀察參數(shù):
彩色1/3"CCD,配備x4物鏡倍率
綜合倍率:約320倍(使用19"顯示器時)
視野范圍:1.2mm x 0.9mm
觀察方向:右側(cè)斜視
照明系統(tǒng):白色LED,支持軟件調(diào)整明暗度
7. 軟件功能簡介:
型號:i-STAR31
可設(shè)定測量條件菜單、重復(fù)測量設(shè)定及解析菜單
支持設(shè)定下針坐標(biāo),實現(xiàn)定位后自動測量及解析功能
配備低通濾波功能,有效過濾噪音及雜訊
具有返回測量起始點功能
顯示倍率范圍:垂直方向502,000,000倍,縱方向110,000倍
強大的解析功能,包括主要圖形、段差解析、粗糙度解析、內(nèi)應(yīng)力分析及多種段差解析選項
8. 其他參數(shù):
床臺材質(zhì):一體花崗巖
防振臺(選購):提供落地型或桌上型選項
電源規(guī)格:AC220V±10%,50/60HZ,300VA本體外觀尺寸及重量:W500×D440×H610mm,重120kg,采用一體花崗巖低重心結(jié)構(gòu)設(shè)計(不含防振臺)
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