當前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 半導體前道工藝設備 > 5 刻蝕設備 > PlasmaPro 100 ALE原子層刻蝕
簡要描述:ALE是一種先進的刻蝕技術,可以針對較淺的微結構進行出色的深度控制。 隨著器件微結構尺寸越來越小,要達到器件的更高性能可以通過ALE技術所具有的精度來實現(xiàn)。在如今的先進微電子器件制造中,高保真度的圖案轉移(刻蝕)是至關重要的。隨著特征尺寸縮小至亞10納米級別,以及新型器件采用超薄的二維材料,對原子尺度保真度的需求不斷增加。原子層刻蝕(ALE)技術克服了傳統(tǒng)(連續(xù))刻蝕技術在原子尺度上的局限
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可實現(xiàn)刻蝕層的高深度精度
最大可加工200 mm的晶圓,典型均勻度<±2%
利用先進的技術對刻蝕深度進行高度控制
對襯底的損害小
可與標準ICP結合使用
原子層刻蝕通常包括4個步驟的周期,根據(jù)需要可重復多次,以達到所需的刻蝕深度。以下是使用 Cl2/Ar進行AlGaN刻蝕的ALE示例:
步驟 1) 對基底進行刻蝕氣體的投放,刻蝕氣體吸附在刻蝕材料上并與之發(fā)生反應。通常,刻蝕氣體經(jīng)等離子體解離以增強吸附速率。通過正確選擇投放氣體和參數(shù),這個步驟可以實現(xiàn)自限制,即在吸附一層分子后化學投放停止。
步驟 2) 清除所有剩余的投放氣體
步驟 3) 用低能惰性離子轟擊表面,去除已發(fā)生反應的表面層。如果離子的能量足以去除化學修飾層,但不足以(濺射)刻蝕下層塊狀材料,這可能是自限制。
步驟 4)清除腔室內(nèi)的刻蝕產(chǎn)物。
采用低離子能量,刻蝕損傷小
精確控制刻蝕深度
超薄層去除
自限制行為
選擇性高,因為可對劑量氣體和離子能量進行定制,以盡量減少對掩膜層或底層材料的刻蝕
刻蝕速率受刻蝕特征長寬比的影響較小(即減少ARDE),因為自由基的供應和表面離子轟擊已分成獨立的步驟
由于具有自限性,均勻性得到改善
刻蝕表面光滑
由于依賴離子轟擊,因此具有各向異性
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